Ausstattung

  Labor Urheberrecht: Fraunhofer ILT Labor

Innovative Entwicklungen verlangen umfangreiche Kompetenzen. Im Bereich der Lasertechnik ist das Zusammenspiel zwischen Laserentwicklung und Laseranwendung von herausragender Bedeutung. Neue Laser erlauben neue Anwendungen und neue Anwendungen geben Anregungen für neue Lasersysteme. Deshalb erweitert der Lehrstuhl für Lasertechnik in Zusammenarbeit mit dem Fraunhofer-Institut für Lasertechnik in enger Kooperation mit führenden Laserherstellern und innovativen Laseranwendern ständig seine Kernkompetenzen. Das Fundament für die Kernkompetenzen bilden hochqualifizierte Ingenieure und Wissenschaftler aus unterschiedlichen Fachgebieten.

Technische Infrastruktur
Zur technischen Infrastruktur des Lehrstuhls gehören eine mechanische und eine elektronische Werkstatt, ein Metallurgielabor, ein Fotolabor, ein Labor für optische Messtechnik sowie eine Konstruktionsabteilung.

Wissenschaftliche Infrastruktur
Zur wissenschaftlichen Infrastruktur zählen u.a. eine mit internationaler Literatur bestückte Bibliothek, Literatur- und Patentdatenbanken sowie wissenschaftlich orientierte Software und Datenbanken zur Prozessdokumentation.

Laserstrahlquellen

  • Festkörperlaser mit Pulsdauern von Mikrosekunden bis Femtosekunden
  • Excimerlaser und CO2-Laser
  • Diodenlasersysteme
  • Faserlaser

Bearbeitungsstationen

  • mehrachsige Handlingsysteme (Mikrotische bis Portalanlagen)
  • Strahlführungssysteme (Optiken, Faser)
  • Robotersysteme
  • Tastsysteme
  • Direct-writing- und Pulsed-Laser-Deposition-Anlage
  • Reinraum zur Diodenmontage

Analysemöglichkeiten

  • Hochgeschwindigkeitsfotografie mit Belichtungszeiten bis zu minimal 200ps oder Bildwiederholraten von bis zu maximal 50kHz
  • Thermographie (Wellenlängenbereich 3-5 µm, 60 bps, örtliche Auflösung 200µm²)
  • Einrichtungen zur holografischen Schwingungsanalyse und Speckle-Interferometrie
  • Lasertriangulationssensoren zur Abstand- und Konturvermessung
  • Laser-Koordinatenmessmaschine
  • Laser-Spektroskopie-Systeme zur Temperaturmessung in Gasen
  • XPS und AES zur Elementanalyse
  • Raman-Spektroskopie
  • Ellipsometrie zur Schichtdickenmessung und Brechungsindexbestimmung
  • Weisslicht-Interferenz-Mikroskopie zur Vermessung der Oberflächentopographie
  • UV-VIS und FTIR-Spektroskopie
  • REM und EDX
  • konfokale Mikroskopie