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Equipment Innovative Entwicklungen verlangen umfangreiche Kompetenzen. Im Bereich der Lasertechnik ist das Zusammenspiel zwischen Laserentwicklung und Laseranwendung von herausragender Bedeutung. Neue Laser erlauben neue Anwendungen und neue Anwendungen geben Anregungen für neue Lasersysteme. Deshalb erweitert der Lehrstuhl für Lasertechnik in Zusammenarbeit mit dem Fraunhofer-Institut für Lasertechnik in enger Kooperation mit führenden Laserherstellern und innovativen Laseranwendern ständig seine Kernkompetenzen. Das Fundament für die Kernkompetenzen bilden hochqualifizierte Ingenieure und Wissenschaftler aus unterschiedlichen Fachgebieten.
Technische Infrastruktur
Zur technischen Infrastruktur des Lehrstuhls gehören eine mechanische und eine elektronische Werkstatt, ein Metallurgielabor, ein Fotolabor, ein Labor für optische Messtechnik sowie eine Konstruktionsabteilung.
Wissenschaftliche Infrastruktur
Zur wissenschaftlichen Infrastruktur zählen u.a. eine mit internationaler Literatur bestückte Bibliothek, Literatur- und Patentdatenbanken sowie wissenschaftlich orientierte Software und Datenbanken zur Prozessdokumentation.
Geräteausstattung
Die Geräteausstattung des Lehrstuhls für Lasertechnik wird ständig auf dem Stand der Technik gehalten. Sie umfasst derzeit als wesentliche Komponenten:
Laserstrahlquellen
Festkörperlaser mit Pulsdauern von Mikrosekunden bis Femtosekunden
Excimerlaser und CO2-Laser
Diodenlasersysteme
Faserlaser
Bearbeitungsstationen
mehrachsige Handlingsysteme (Mikrotische bis Portalanlagen)
Strahlführungssysteme (Optiken, Faser)
Robotersysteme
Tastsysteme
Direct-writing- und Pulsed-Laser-Deposition-Anlage
Reinraum zur Diodenmontage
Analysemöglichkeiten
Hochgeschwindigkeitsfotografie mit Belichtungszeiten bis zu minimal 200ps oder Bildwiederholraten von bis zu maximal 50kHz
Thermographie (Wellenlängenbereich 3-5 µm, 60 bps, örtliche Auflösung 200µm²)
Einrichtungen zur holografischen Schwingungsanalyse und Speckle-Interferometrie
Lasertriangulationssensoren zur Abstand- und Konturvermessung
Laser-Koordinatenmessmaschine
Laser-Spektroskopie-Systeme zur Temperaturmessung in Gasen
XPS und AES zur Elementanalyse
Raman-Spektroskopie
Ellipsometrie zur Schichtdickenmessung und Brechungsindexbestimmung
Weisslicht-Interferenz-Mikroskopie zur Vermessung der Oberflächentopographie
UV-VIS und FTIR-Spektroskopie
REM und EDX
konfokale Mikroskopie
Update 2007-05-15 © LLT 2007