Packaging and characterization equipment for high-power diode laser bars and VCSELs

Bellingham, Wash / SPIE, the International Society for Optical Engineering (2001) [Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband]

Testing, reliability, and applications of optoelectronic devices : 24 - 26 January 2001, San Jose, USA / sponsored and publ. by SPIE, the International Society for Optical Engineering. Aland K. Chin .̤, chairs/ed
Seite(n): 165-172

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Boucke, Konstantin
Jandeleit, Jürgen
Brandenburg, Wolfgang
Ostlender, Andreas
Loosen, Peter

Weitere Autorinnen und Autoren

Poprawe, Reinhart

Identifikationsnummern