Non-interferometric transient quantitative phase microscopy for ultrafast engineering

Horn, Alexander; Mingareev, Ilja; Werth, Alexander; Kachel, Martin; Brenk, Udo

Berlin [u.a.] : Springer (2008)
Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel

In: Applied physics / A, Materials science & processing
Band: 93
Heft: 1
Seite(n)/Artikel-Nr.: 165-169

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